溫濕度環(huán)境測試

日期： 2019-10-23

測試簡介

溫濕度環(huán)境試驗主要應用于考核電工電子產品、元件、材料等在恒定濕熱、溫度循環(huán)變化等條件下，成品或部件的使用及貯存適應性，是產品中應用最為廣泛的人工加速模擬試驗類型。

測試名稱

主要包括低溫測試、高溫測試、恒溫恒濕測試、交變濕熱、溫度循環(huán)測試、快速溫變測試等。

應用范圍

廣泛用于電子電氣、車輛、醫(yī)療、儀器儀表、石油化工等領域，整機、元器件、包裝、材料等。

測試能力

總溫度范圍：-70℃~+200℃

總濕度范圍：10%RH~98%RH

普通溫變箱升降溫速率：1~2℃/min

快速溫變箱升降溫速率：1~25℃/min

設備容積范圍：0.4 m3~21m

待測產品類別/樣品數量

需確認樣品尺寸大小、樣品數量、周期或時間、是否帶電測試、測試前后功能檢查等。

測試周期

普通測試周期：測試時間+2WD

常用標準

項目名稱	檢測標準（方法）名稱及編號
低溫試驗	GB/T 2423.1-2008 IEC 60068-2-1-2007	電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫
高溫試驗	GB/T 2423.2-2008 IEC 60068-2-2-2007	電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫
恒定濕熱試驗	GB/T 2423.3-2016 IEC 60068-2-78-2012	電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗
交變濕熱試驗	GB/T 2423.4-2008 IEC 60068-2-30-2005	電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱(12+12小時循環(huán))
溫度變化	GB/T2423.22-2012 IEC 60068-2-14-2009	電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化